光纖技術標準進展
時間:2016-01-14 16:26:57 來源：
所有單模光纖系列的標準中，均刪除了跳線截止波長的相關內(nèi)容。
1.1.4itu-tg.657
2009版的itu-tg.657較上一版本變化較大，主要表現(xiàn)在對光纖分類上，由最早的g.657a和g.657b改為了g.657a1、a2、b2、b34個子類。
2010年6月，itu還發(fā)布了g.657建議書的增補文件，對資料性附錄一：“小彎曲半徑條件下光纖的壽命預測”進行了修訂。
另外，在2011年2月最近一次的itu-t會議上，對g.657建議書的進一步發(fā)展進行了廣泛的討論。其中形成一致意見的是：在下一版本的itu-tg.657建議書中，將b2和b3類光纖的mfd范圍變?yōu)榕ca1和a2一致，即刪除下限為6.3μm的小模場光纖類型。其主要原因在于小模場的g.657光纖在實際應用中與g.652光纖的接續(xù)損耗較大，且現(xiàn)在市場上各廠商的主流產(chǎn)品均為模場直徑與g.652光纖接近，而非小模場的光纖。此意見將在下一版本的修訂中繼續(xù)進行討論，現(xiàn)階段官方發(fā)布的正式建議書中仍維持了原分類原則。
1.1itu-t光纖技術標準進展
1.1.1itu-tg.650.1
itu-tg.650.1于2010年進行了修訂，其中主要的更新為以下幾點。
a)itu-tg.650.1-2009第5.3節(jié)，刪除了跳線截止波長的測試方法。由于實際意義較小，ADSS光纜單模光纖規(guī)范中均刪除了跳線截止波長的定義和指標要求。
b)itu-tg.650.1-2009第5.3.1.3節(jié)，截止波長的測試步驟，對打圈參考法和多模參考法的使用進一步給予了詳細解釋。對于打圈參考法，所打圈的半徑應該在測試之前予以確定。圈的半徑應足夠小，以濾除次高階模式，卻不應太小，以至于引起長波長處的宏彎損耗。對于g.652~g.656光纖來說，典型的打圈半徑為10~30mm，但對于某些g.657光纖，圈的半徑可能要求更小。對于一些g.657光纖，由于其優(yōu)異的抗彎曲特性，使用打圈參考法測試截止波長可能并不適合，這種情況下，推薦使用多模參考法進行測試。
c)itu-tg.650.1-2009第5.6節(jié)，增加了宏彎損耗的測試方法。
1.1.2itu-tg.650.3
itu-tg.650.3于2011年以增補文件的形式新增了資料性附錄三：“在已安裝的鏈路上區(qū)分宏彎點和熔接點的方法”，其主要原理是依據(jù)測試2個波長處的雙向otdr曲線，對于某一個損耗事件點，根據(jù)2個波長處實測損耗值，計算宏彎因子，再通過宏彎因子判斷該處是否為異常宏彎點。由于g.657光纖的彎曲損耗一般很小，建議書中注明了此方法一般只適用于g.652光纖。同時，在不清楚鏈路中使用的光纖類型時，此方法也不適用。
1.1.3itu-tg.652~g.656
g.652~g.656系列標準均在2009—2010年進行了更新，但實際的技術指標并沒有大的變化。
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